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J-GLOBAL ID：200903046166374818

質量分析システム

Inventor： 横須賀 俊之 ,  吉成 清美 ,  小林 金也
Applicant, Patent owner： 株式会社日立ハイテクノロジーズ
Agent (1)： 平木 祐輔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007003387
Publication number (International publication number)：2008170260
Application date： Jan. 11, 2007
Publication date： Jul. 24, 2008
Summary：

【課題】高効率に精度良くユーザの必要とする測定対象の情報を得ることができる質量分析装置を提供する。【解決手段】本発明のタンデム型質量分析システムによると、MS2質量分析のためのプレカーサイオンの候補を選択するとき、MS1マススペクトルのピークのイオンの強度が所定の閾値以上である場合は、該イオンの第1のパラメータに関してデータベースを検索し、該イオンがデータベースに格納されているか否かを判定し、MS1マススペクトルのピークのイオンの強度が所定の閾値未満である場合は、第1のパラメータより少ない第2のパラメータに関してデータベースを検索し、このイオンが上記データベースに格納されているか否かを判定し、データベースに格納されていないイオンを、MS2質量分析のためのプレカーサイオンの候補として選択する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

測定対象の物質に関する質量分析結果が格納されたデータベースと、上記物質を前処理するクロマトグラフと、上記物質に含まれる成分をイオン化するイオン化部と、イオン化した成分を解離させるイオン解離部と、イオンを質量対電荷比m/z毎に分離する質量分析部と、質量対電荷比m/z毎に分離されたイオンを検出してマススペクトルを生成するイオン検出部と、該イオン検出部によって得られたマススペクトルより上記成分に含まれる分子配列を同定するデータ処理部と、を有し、上記イオン化部からのイオンを上記質量分析部によって質量対電荷比m/z毎に分離し、上記イオン検出部によってMS1マススペクトルを得るMS1質量分析と、上記MS1マススペクトルのピークからプレカーサイオンを選択し、該プレカーサイオンを上記イオン解離部によって解離させ、該解離イオンを上記質量分析部によって質量対電荷比m/z毎に分離し、上記イオン検出部によってMS2マススペクトルを得るMS2質量分析と、を行い、該質量分析を所定の段繰り返すタンデム型質量分析システムにおいて、 上記MS1マススペクトルのピークのイオンの強度が所定の閾値以上である場合は、該イオンの第1のパラメータに関して上記データベースを検索し、該イオンが上記データベースに格納されているか否かを判定し、 上記MS1マススペクトルのピークのイオンの強度が所定の閾値未満である場合は、上記第1のパラメータの個数より少ない個数の第2のパラメータに関して上記データベースを検索し、上記イオンが上記データベースに格納されているか否かを判定し、 上記データベースに格納されていないイオンを、MS2質量分析のためのプレカーサイオンの候補として選択することを特徴とするタンデム型質量分析システム。

IPC (2)：

G01N 27/62 ,  H01J 49/26

FI (3)：

G01N27/62 D ,  G01N27/62 X ,  H01J49/26

F-Term (10)：

2G041CA01 ,  2G041EA04 ,  2G041FA06 ,  2G041FA08 ,  2G041FA12 ,  2G041FA13 ,  2G041GA09 ,  2G041HA01 ,  2G041LA06 ,  5C038HH28

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 質量分析システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-152693   Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社日立ハイテクノロジーズ