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J-GLOBAL ID：200903046167051184

周波数測定方法及び周波数測定装置

Inventor： 中村 文
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 斎藤 勲
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000040516
Publication number (International publication number)：2001228185
Application date： Feb. 18, 2000
Publication date： Aug. 24, 2001
Summary：

【要約】【課題】高価なA/D変換器を用いることなく、A/D変換の最大ダイナミックレンジ以上の測定を可能にする周波数測定方法および装置を提供すること。【解決手段】周波数変換手段100でアナログ入力信号をA/D変換可能な周波数帯に変換し、測定しようとする測定周波数区間内の1つの周波数幅nの周波数成分だけをBPF101を通過させ、A/D変換において最高のダイナミックレンジが得られるよう前記通過した周波数成分のレベルをレベル変換手段102で調整し、レベル調整した周波数成分をA/D変換器103でディジタルデータに変換し、そのディジタルデータから周波数幅nの周波数特性を周波数特性算出手段105で算出し、上記各工程を繰り返して得られた複数の周波数幅nの周波数特性を合成手段106で合成して全測定周波数区間の周波数特性が得られる。

Claim (excerpt)：

アナログ入力信号をA/D変換可能な周波数帯に周波数変換し、測定しようとする測定周波数区間内の1つの周波数幅nの周波数成分だけをバンドパスフィルタを通過させ、A/D変換において最高のダイナミックレンジが得られるよう前記通過した周波数成分のレベルを調整し、前記レベル調整した周波数成分をA/D変換してディジタルデータを取得し、前記取得したディジタルデータから周波数幅nの周波数特性を算出し、前記各工程を前記全測定周波数区間内を網羅するように繰り返し実行し、得られた複数の周波数幅nの周波数特性を合成して全測定周波数区間の周波数特性を得る各工程からなることを特徴とする周波数測定方法。