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J-GLOBAL ID：200903046182267789

単一光子検出装置およびそのアフターパルス除去方法

Inventor： 吉澤 明男 ,  鍛治 良作
Applicant, Patent owner： 独立行政法人産業技術総合研究所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002089887
Publication number (International publication number)：2003282933
Application date： Mar. 27, 2002
Publication date： Oct. 03, 2003
Summary：

【要約】【課題】 休止時間に相当する基準値の設定変更、発生したアフターパルスの除去を簡単、容易に行うことができる単一光子検出器およびそのアフターパルス除去方法を提供することである。【解決手段】 アフターパルス除去方法において、アバランシェフォトダイオードを受光素子とする単一光子検出手段が光子を検出するステップ、制御手段が、すべての検出時刻を記憶し、直前の光子検出時刻との時間差が予め設定した基準値よりも長い検出時刻のみを有効と判断するステップから構成されること。

Claim (excerpt)：

アバランシェフォトダイオードを受光素子とする単一光子検出手段が光子を検出するステップ、制御手段が、すべての検出時刻を記憶し、直前の光子検出時刻との時間差が予め設定した基準値よりも長い検出時刻のみを有効と判断するステップから構成されることを特徴とするアフターパルス除去方法。

IPC (5)：

H01L 31/10 ,  G01J 1/42 ,  G01J 11/00 ,  H01L 31/107 ,  H04B 10/00

FI (5)：

G01J 1/42 H ,  G01J 11/00 ,  H01L 31/10 G ,  H01L 31/10 B ,  H04B 9/00 Z

F-Term (30)：

2G065AB15 ,  2G065AB19 ,  2G065BA09 ,  2G065BC04 ,  2G065BC33 ,  2G065CA12 ,  2G065CA30 ,  2G065DA05 ,  5F049MA07 ,  5F049NA17 ,  5F049NB01 ,  5F049NB07 ,  5F049NB10 ,  5F049UA20 ,  5K102AA01 ,  5K102AA52 ,  5K102AB11 ,  5K102KA12 ,  5K102KA28 ,  5K102KA39 ,  5K102MA02 ,  5K102MB08 ,  5K102MC26 ,  5K102MD03 ,  5K102MH03 ,  5K102MH14 ,  5K102MH27 ,  5K102PH33 ,  5K102RD27 ,  5K102RD28

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 光計測装置及び光計測方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-083842   Applicant：浜松ホトニクス株式会社
• 特表平2-500789