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J-GLOBAL ID：200903046238271709

反射体の光促進劣化試験方法

Inventor： 川本 悟志 ,  福田 伸 ,  福田 信弘
Applicant, Patent owner： 三井東圧化学株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995213555
Publication number (International publication number)：1997061295
Application date： Aug. 22, 1995
Publication date： Mar. 07, 1997
Summary：

【要約】【解決手段】 反射体の光促進劣化試験方法であって、可視光光源10よりでた光を、紫外線カットフィルター20で紫外線を除くことにより、可視光を主体とする光を該反射体30に照射することにより行う反射体の光促進劣化試験方法。【効果】 本発明の光促進劣化試験方法を用いることにより、液晶表示装置のバックライト用ランプリフレクターにて発生する銀の光劣化を短時間で再現することができる。

Claim (excerpt)：

反射体の光促進劣化試験方法であって、該反射体に可視光を主体とする光を照射することにより行う反射体の光促進劣化試験方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 特開昭64-094241