Pat
J-GLOBAL ID:200903046301338444
熱電変換材料の評価方法
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002084725
Publication number (International publication number):2004003872
Application date: Mar. 26, 2002
Publication date: Jan. 08, 2004
Summary:
【課題】傾斜組成を有する被測定試料の熱電変換材料から、熱電変換材料の熱伝導率と熱電能を同時に評価して、熱電変換材料の組成を最適なものとすることができる熱電変換材料の評価手法を提供する。【解決手段】傾斜組成を有する被測定試料を基体に埋込み、前記被測定試料の表面が露出するように被測定試料を埋め込んだ基体を薄板状に加工し、前記薄板状に加工した基体裏面の露出した被測定試料に金属薄膜を形成し、加熱されたプローブで被測定試料の組成傾斜方向に試料表面を走査し、熱起電力および被測定試料の厚み方向の温度差を測定し、測定した位置に対応してマッピングを行い熱伝導率と熱電能の分布を同時に得る。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
傾斜組成を有する被測定試料を基体に埋込み、
前記被測定試料の表面が露出するように被測定試料を埋め込んだ基体を薄板状に加工し、
前記薄板状に加工した基体裏面の露出した被測定試料に金属薄膜を形成し、
加熱されたプローブで被測定試料の組成傾斜方向に試料表面を走査し、
熱起電力および被測定試料の厚み方向の温度差を測定し、
測定した位置に対応してマッピングを行い熱伝導率と熱電能の分布を同時に得る、
ことを特徴する熱電変換材料の評価方法。
IPC (4):
G01N25/00
, G01N25/18
, H01L35/26
, H01L35/34
FI (4):
G01N25/00 B
, G01N25/18 E
, H01L35/26
, H01L35/34
F-Term (15):
2G040AB08
, 2G040AB09
, 2G040AB18
, 2G040BA02
, 2G040BA26
, 2G040BA27
, 2G040CA01
, 2G040DA03
, 2G040DA12
, 2G040DA15
, 2G040EA02
, 2G040EB02
, 2G040EC03
, 2G040GC01
, 2G040HA06
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
-
熱電変換性能評価方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-146886
Applicant:科学技術庁航空宇宙技術研究所長
-
特開平1-161140
-
熱電変換素子の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-232583
Applicant:科学技術庁航空宇宙技術研究所長
-
熱電特性測定方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-206483
Applicant:真空理工株式会社
-
熱電変換特性の測定方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-089639
Applicant:株式会社トクヤマ
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Cited by examiner (5)
-
熱電変換性能評価方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-146886
Applicant:科学技術庁航空宇宙技術研究所長
-
特開平1-161140
-
熱電変換素子の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-232583
Applicant:科学技術庁航空宇宙技術研究所長
-
熱電特性測定方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-206483
Applicant:真空理工株式会社
-
熱電変換特性の測定方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-089639
Applicant:株式会社トクヤマ
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Article cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
Cited by examiner (2)
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