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J-GLOBAL ID:200903046367907989

多重エネルギコンピュータ断層撮影法を用いた隠された対象物の自動認識のための装置および方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 深見 久郎 (外3名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1997519040
Publication number (International publication number):1999500229
Application date: Sep. 25, 1996
Publication date: Jan. 06, 1999
Summary:
【要約】手荷物中の禁制品または製造品の欠陥などの、隠された対象物およびその特徴の自動認識のための装置および方法が開示される。装置は多重エネルギX線走査を用いて、関係のあるターゲットの既知の反応に対応するスペクトル反応によってターゲットを識別する。自動検出および手動の検査の両方の検出感度は多重エネルギ、多スペクトル技術を通して改善される。高い処理能力を達成するのにマルチチャネル加工処理が用いられる。ターゲット識別は、走査データの形、質感、および状況などの属性をさらに分析することによって確認できる。装置は統計的な分析を用いて特定のターゲット識別の信頼水準を予測することもできる。放射線写真、CT像、またはその両方をオペレータによる視覚的分析のために再構成し、コンピュータモニタに表示してもよい。最後に、装置はオペレータからの入力を受取り、かつ記憶して以後のターゲット識別に用いることもできる。
Claim (excerpt):
対象物内に隠された関係のあるターゲットを検出するための装置であって、前記装置は、 設定されたバンド内のエネルギスペクトルを有する光子のビームを発生するためのX線源を含み、前記ビームは前記対象物に向けられており、前記装置はさらに 光子エネルギ吸収検出器アレイを含み、前記光子エネルギ吸収検出器アレイは前記対象物が前記源と検出器アレイとの間に位置するような態様で前記X線源に対向するように位置付けられ、前記ビーム路に沿って前記対象物を通って移動した後の前記光子のエネルギ減衰を測定し、前記装置はさらに 前記検出器に応答して前記光子エネルギ測定値から減衰スペクトルデータを形成するためのデータ収集回路と、 前記減衰スペクトルデータを分析して前記対象物内の関係のあるターゲットを識別するための手段とを含む、装置。
IPC (3):
G01N 23/04 ,  G01N 23/18 ,  G01V 5/00
FI (3):
G01N 23/04 ,  G01N 23/18 ,  G01V 5/00 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 特開昭60-080706
  • 特開昭56-072855
  • 特開昭54-148494

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