Pat
J-GLOBAL ID:200903046472614393

X線透視撮影装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高崎 芳紘
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994039852
Publication number (International publication number):1995250283
Application date: Mar. 10, 1994
Publication date: Sep. 26, 1995
Summary:
【要約】【目的】 透視を行った後で撮影を行うX線透視撮影装置において、暗電流等のオフセット値の補償を、特別な補償手段を用いることなく、ダイナミックに実現したい。【構成】 透視時には実透視に先立って暗電流等のオフセット値をAD変換器を介して計測しておき、実透視時ではこのオフセット値を、AD変換器から得られる実際の計測値から差し引きオフセット補正を行う。撮影時には実撮影に先立つて暗電流等のオフセット値をAD変換器を介して計測しておき、実撮影では、このオフセット値を、AD変換器から得られる実際の計測値から差し引きオフセット補正を行う。このオフセット補正後のAD変換器出力で黒化度一定に達したか否かの判定を行い、黒化度制御を行う。
Claim (excerpt):
X線源と、被写体を搭載したテーブルと、透視時には被写体からの透過X線通路から除外され、撮影時にはその透過X線通路に挿入されるフィルムと、被写体を透過したX線を光に変換するイメージインテンシファイアと、イメージインテンシファイアの出力光を電気信号に変換する光/電気変換手段と、透視時にはこの電気信号をAD変換し、撮影時にはこの電気信号の積分信号をAD変換するAD変換器と、電気信号のAD変換出力から透視条件を設定制御し、積分信号のAD変換出力から撮影時間を制御するディジタル処理手段と、上記光/電気信号変換手段の電気信号出力を表示するTVモニタと、より成ると共に、上記ディジタル処理手段は、透視時及び撮影時に、X線を放出しない区間でのオフセット出力であるAD変換出力を求めラッチする計測手段と、透視時には透視時のオフセットによるラッチしたAD変換出力で実透視時のAD変換出力を補正し、撮影時には撮影時のオフセットによるラッチしたAD変換出力で実撮影時のAD変換出力を補正する補正手段と、この補正手段の補正後のAD変換出力で、透視条件の設定制御及び撮影時間制御を行わせる手段と、を有することとしたX線透視撮影装置。

Return to Previous Page