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J-GLOBAL ID：200903046509934407

測距装置

Inventor： 小川 公明
Applicant, Patent owner： 旭光学工業株式会社
Agent (1)： 鈴木 章夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992337892
Publication number (International publication number)：1994160085
Application date： Nov. 26, 1992
Publication date： Jun. 07, 1994
Summary：

【要約】【目的】 対象物からの反射光を利用して対象物までの距離を測定する装置において、測距の信頼性を高める一方で消費電流の低減を図る。【構成】 赤外光を発光する発光ダイオード13と、この発光ダイオードの駆動電流を大小に切替可能な駆動部12と、被写体Aからの反射光の結像スポット光Sの位置を検出する位置検出器16と、検出されたスポット光位置に基づいて被写体までの距離を演算する距離演算回路17と、複数回の測定により得られた距離を平均化処理する平均化回路18と、平均値に対する個々の測定距離の偏差を求めてそのバラツキを判定する回路19とを備え、バラツキ判定回路19の判定結果により駆動部12を制御し、所定値以上のバラツキが生じているときに発光ダイオード13の供給電流を増大させる。

Claim (excerpt)：

対象物に投射する光を発光する手段と、この発光手段の発光出力を制御する手段と、前記対象物からの反射光を受光し、その受光位置から対象物までの距離を測定する手段と、測定された距離のバラツキを判定する手段とを備え、このバラツキを判定した結果に基づいて前記発光出力制御手段が前記発光手段の発光出力を制御するように構成したことを特徴とする測距装置。

IPC (3)：

G01C 3/06 ,  G01B 3/00 ,  G02B 7/32

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 特開平4-277711
  
• 特開平4-204811
  
• 特開平1-206282