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J-GLOBAL ID：200903046585839561
ビーム位置モニタ方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
深見 久郎 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993092630
Publication number (International publication number)：1994310299
Application date： Apr. 20, 1993
Publication date： Nov. 04, 1994
Summary：
【要約】【目的】 電子ビームの加速を行ないながら電子ビームの位置を検出することができ、かつ電磁ノイズの影響のないビーム位置測定方法を提供する。【構成】 ビームダクト6内において回転運動をする電子に対しレーザ光を衝突させ、逆コンプトン散乱によって発生する高エネルギ光子を散乱光測定器4により計測し、電子ビームの位置を測定する。
Claim (excerpt)：
電子蓄積リング内において加速された高エネルギ電子ビームにレーザ光を衝突させ、逆コンプトン散乱によって発生する高エネルギ光子を計測して電子ビームの位置を測定するビーム位置モニタ方法。
IPC (2)：
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