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J-GLOBAL ID:200903046620639597

MRIシステムでのプレスキャン

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 生沼 徳二
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994161629
Publication number (International publication number):1995163544
Application date: Jul. 14, 1994
Publication date: Jun. 27, 1995
Summary:
【要約】【目的】 本発明は、MR高速スピンエコー(FSE)パルス系列(図2)を調節して、MRIスキャナで生じる位相誤差を小さくするために、FSEスキャンの前に行われるプレスキャンプロセスを提供する。【構成】 FSEパルス系列を使用してMRデータを取得するステップ、取得されたMRデータの中の少なくとも2つのエコー信号の各々に対して位相プロフィールを計算するステップ、2つの位相プロフィールの間の位相差値の大きさを小さくするようにFSEパルス系列の中のRFパルスの相対位相を調節するステップ、および位相差値が予め設定された値より小さくなるまでこれらのステップを繰り返すステップを含む。更に、FSEスキャンの間に生じる位相誤差による画像アーチファクトを更に小さくするような受信器位相および読出し勾配に対する調節分をプレスキャンの間に計算する。
Claim (excerpt):
RF励起パルスによりRF磁界が形成され、その後に一連のRF再集束パルスが続き、取得するエコー信号を空間的に符号化するために磁界勾配が印加されるような高速スピンエコーパルス系列を使用して、スキャンを行うことによりMRデータを取得する磁気共鳴イメージングシステムで、上記スキャンを行う前に高速スピンエコーパルス系列を調節するためのプレスキャンに於いて、A) 高速スピンエコーパルス系列を使用することによりMRデータを取得するステップ、B) 取得されたMRデータ内の2つのエコー信号の各々に対して位相プロフィールを計算するステップ、C) 高速スピンエコーパルス系列の中のRF励起パルスとRF再集束パルスの相対位相を調節することにより、2つの位相プロフィールの間の位相差値の大きさを小さくするステップ、およびD) 位相差値の大きさが予め設定された値より小さくなるまでステップA、BおよびCを繰り返すステップを含むことを特徴とするプレスキャン。
IPC (2):
A61B 5/055 ,  G01N 33/48
FI (2):
A61B 5/05 312 ,  G01N 24/08 510 Y
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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