Pat
J-GLOBAL ID：200903046651530453
生検支援方法および超音波診断装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
井島 藤治 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996090789
Publication number (International publication number)：1997276278
Application date： Apr. 12, 1996
Publication date： Oct. 28, 1997
Summary：
【要約】【課題】 誤操作の危険性を無くした生検支援方法および超音波診断装置を実現する。【解決手段】 生検針用の案内具を超音波プローブに装着して被検体の生検を行う超音波診断装置において、超音波診断画像上で生検針NDLの穿刺経路を設定する設定手段16と、超音波プローブPRBにおける案内具ATTの装着状態を検出する検出手段SNSと、設定手段16による設定状態と検出手段SNSの検出信号とに基づき操作の正誤を判定する判定手段10とを具備することを特徴とする。
Claim (excerpt)：
生検針用の案内具を超音波プローブに装着して被検体の生検を行うに当たり、超音波診断画像上で設定された前記生検針の穿刺経路と、前記超音波プローブにおける前記案内具の装着状態とに基づき操作の正誤を判定するようにしたことを特徴とする生検支援方法。
IPC (2)：
A61B 10/00 103
, A61B 8/12
A61B 10/00 103 M
, A61B 8/12
Cited by examiner (7)
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