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J-GLOBAL ID：200903046674623297
眼特性測定装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
橋爪 健
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002327200
Publication number (International publication number)：2004159779
Application date： Nov. 11, 2002
Publication date： Jun. 10, 2004
Summary：
【課題】収差量が多い被検眼の光学特性を精密に測定可能とする。【解決手段】光源部11から被検眼網膜上を照明するための第1照明光学系10と、被検眼網膜からの反射光束を複数のビームに変換する第1変換部材22Aを有する第1受光光学系20Aと、第1受光光学系20A中に配置され、反射する光束の収差を補償する補償光学部60と、補償光学部60での補償収差を測定するための第2光源部16と、第2光源部16から発し補償光学部60で反射した光束を受光する第2受光光学系20Bと、第1受光光学系20A及び第2受光光学系20Bの受光光束を受光する第1受光部21A及び第2受光部21Bとを備える。第1受光部21Aからの出力に基づいて求められた被検眼100の収差を補償光学部60によって補償し、補償後の収差と補償光学部での補償収差を測定し、被検眼100の光学特性を求める。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
第1波長の光束を発する第1光源部と、
上記第1光源部からの光束で被検眼網膜上の微小な領域を照明するための第1照明光学系と、
被検眼網膜から反射して戻ってくる反射光束の光学特性に基づき与えられる補償量に従って、透過又は反射する光束の収差を補償する補償光学部と、
被検眼網膜から反射して戻ってくる反射光束の一部を、上記補償光学部及び少なくとも実質的に17本のビームに変換する第1変換部材を介して受光するための第1受光光学系と、
上記第1受光光学系の受光光束を受光する第1受光部と、
第2波長の光束で上記補償光学部を照明するための第2光源部と、
上記第2光源部からの光束を、上記補償光学部及び少なくとも実質的に17本のビームに変換する第2変換部材を介して受光するための第2受光光学系と、
上記第2受光光学系の受光光束を受光する第2受光部と、
上記第1受光部の出力に基づき被検眼の光学特性を求め、該光学特性に従い補償量を求めて上記補償光学部に出力する補償量演算部と、
上記第2受光部の出力に基づく上記補償光学部で補償された光学特性、及び、上記補償光学部による補償後の上記第1受光部の出力に基づく光学特性を測定し、測定されたこれら光学特性に基づき被検眼の光学特性を求める測定演算部と
を備えた眼特性測定装置。
IPC (1)：
FI (1)：
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