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J-GLOBAL ID:200903046854826293
測距装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
鈴江 武彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993163567
Publication number (International publication number):1995019858
Application date: Jul. 01, 1993
Publication date: Jan. 20, 1995
Summary:
【要約】【目的】この発明の測距装置にあっては、単純な構成で且つ低コストで画面内の多くの領域を測距、測光することを可能とするため、AF用投光素子とAE用受光部とを一体に設けて実質的にスキャンすることを特徴とする。【構成】IRED12の近傍にPD13が一体に移動部材14に設けられている。IRED12から被写体に向けてレンズ15を介して光束が投光され、受光レンズ18を介して受光された被写体光がPD13で光電変換される。また、上記光束の上記被写体からの反射光がPSD19で受光されて光電変換信号が出力される。そして、上記光電変換信号に基いて、上記被写体距離がAFIC20で演算される。また、上記IRED12と一体のPD13は、スキャン機構17によって実質的に走査される。
Claim (excerpt):
被写体に向け、光学系を介して光束を投光する投光素子と、この投光素子の近傍に上記投光素子と一体に設けられ、上記光学系を介して受光した被写体光を光電変換する測光素子と、上記光束の上記被写体からの反射光を受光し、光電変換信号を出力する受光素子と、上記光電変換信号に基いて、上記被写体距離を演算する距離演算手段と、上記投光素子と一体の測光素子を実質的に走査する走査手段とを具備することを特徴とする測距装置。
IPC (3):
G01C 3/06
, G02B 7/32
, G03B 13/36
FI (2):
G02B 7/11 B
, G03B 3/00 A
Patent cited by the Patent:
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