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J-GLOBAL ID：200903046861811587
粒子の光学的検出および分析
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (6)：
深見 久郎
, 森田 俊雄
, 仲村 義平
, 堀井 豊
, 野田 久登
, 酒井 將行
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2004501917
Publication number (International publication number)：2005524083
Application date： Apr. 29, 2003
Publication date： Aug. 11, 2005
Summary：
生物学的分子およびウイルスなどのサブミクロンの構造の単一の粒子の検出のための方法および装置は光学素子(100)を利用する。光学素子(100)は光学的に透明な基板(1)を含み、この光学的に透明な基板(1)は、光学素子の表面のうち非金属でコーティングされた領域(3)上に入射する光学ビーム(4)で照らされる金属(2)の薄膜で部分的にコーティングされ、光学ビーム(4)は、光学素子のうち金属でコーティングされた領域に近接するかまたはその付近にある点に入射し、このため、当該ビームは測定ゾーンを規定する金属面の上方で、しかしその金属面の付近で実質的にそれに平行に伝搬し、その内部から、光学素子と接触するよう配置されるサンプル(6)に含まれるサブミクロンの粒子(7)が光を散乱させるかまたは光を発し、この光は、従来の光検出システムによって遠視野で検出することができる。当該装置はフローセルまたは光学顕微鏡構成において構成され得る。
Claim (excerpt)：
サブミクロンの粒子の光学的検出および/または分析のための方法であって、
i. 光学ビームのうち少なくとも一部分が、金属膜の表面の上方で、しかし実質的にはこれに平行に近接して伝搬させられるように、ビームが、基板の上で、または基板に極めて近接して、基板のうち金属膜でコーティングされた領域上にあるかこれに隣接するかまたはその付近にある点に入射するように、その基板のうちの1つの表面のうち少なくとも一部分が光学的に不透明な金属を含む膜でコーティングされている基板を、好適な源からの集束ビームの放射で照らすステップと、
ii. 粒子が、金属膜の上方で、しかしこれに近接して伝搬する光学ビームによって照らされる領域に入るように、サブミクロンの寸法の粒子または粒子の個体群を含むサンプルを基板の表面上に配置するステップと、
iii. 金属膜の平面に対して標準の角度または高角度で遠視野に位置する好適なレンズおよび検出器の配置により、光学ビームとの粒子の相互作用によって粒子により個々に散乱させられるか、または粒子から出るようにされる光学放射を検出するステップとを含む、方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N15/00 A
, G01N15/02 A
