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J-GLOBAL ID:200903046865625915

アレーアンテナの制御装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 青山 葆 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997217389
Publication number (International publication number):1999068442
Application date: Aug. 12, 1997
Publication date: Mar. 09, 1999
Summary:
【要約】【課題】 従来例に比較して構成が簡単であって、参照信号を必要とせず、広帯域信号を取り扱うことができ、第3の従来例の光制御型マルチビーム形成装置を適用することができる。【解決手段】 アレーアンテナで受信された複数のディジタル受信信号に対して第1のダウンサンプリング処理する一方、複数のディジタル受信信号を異なる複数の伝達関数を有して帯域通過ろ波することにより帯域分割し、第2のダウンサンプリング処理した後、複数分配して、帯域毎に荷重係数を乗算した後加算して複数のディジタル信号を出力し、さらに、アップサンプリング処理した後、異なる複数の伝達関数を有して帯域通過ろ波して加算して受信信号を出力する。ここで、第1のダウンサンプリング処理後に出力される複数のディジタル信号に基づいて、CMアルゴリズムを用いて、アレーアンテナの主ビームを希望波の所望の方向に向けかつ干渉波などの不要波の到来方向の受信レベルを零にするような荷重係数を演算して更新して設定する。
Claim (excerpt):
所定の配置形状で近接して並置された所定の複数のアンテナ素子からなるアレーアンテナを制御するためのアレーアンテナの制御装置において、上記アレーアンテナの各アンテナ素子でそれぞれ受信された複数の受信信号を複数のディジタル受信信号にA/D変換して出力する変換手段と、上記変換手段から出力される複数のディジタル受信信号に対してそれぞれ、所定のレートでダウンサンプリング処理を実行して、処理後の複数のディジタル信号を出力する第1のダウンサンプラ手段と、上記変換手段から出力される複数のディジタル受信信号をそれぞれ、互いに異なる複数P個の所定の伝達関数H1(z)乃至HP(z)を有して帯域通過ろ波することにより帯域分割して出力する第1の帯域通過ろ波手段と、上記第1の帯域通過ろ波手段から出力される複数のディジタル信号に対してそれぞれ、上記レートでダウンサンプリング処理を実行して、処理後の複数のディジタル信号を出力する第2のダウンサンプラ手段と、上記第2のダウンサンプラ手段から出力される複数のディジタル信号をそれぞれ複数P分配して、上記第1の帯域通過ろ波手段の帯域毎に、上記各ディジタル信号に対してそれぞれ所定の荷重係数w1(m)乃至wL(m)を乗算した後加算して、複数P個のディジタル信号を出力する荷重加算手段と、上記荷重加算手段から出力される複数P個のディジタル信号に対してそれぞれ、所定のレートでアップサンプリング処理を実行して、処理後の複数P個のディジタル信号を出力するアップサンプラ手段と、上記アップサンプラ手段から出力される複数P個のディジタル信号それぞれ、互いに異なる複数P個の所定の伝達関数G1(z)乃至GP(z)を有して帯域通過ろ波して、複数P個のディジタル信号を出力する第2の帯域通過ろ波手段と、上記第2の帯域通過ろ波手段から出力される複数P個のディジタル信号を加算して、加算結果の信号を受信信号として出力する加算手段と、上記第1のダウンサンプラ手段から出力される複数のディジタル信号に基づいて、コンスタント・モジュラス・アルゴリズムを用いて、アレーアンテナの主ビームを希望波の所望の方向に向けかつ干渉波などの不要波の到来方向の受信レベルを零にするような、上記入力される複数のディジタル信号に対する上記荷重係数w1(m)乃至wL(m)を演算して上記荷重加算手段に出力することにより、上記荷重係数w1(m)乃至wL(m)を更新して設定する適応制御手段とを備え、上記第1の帯域通過ろ波手段の伝達関数H1(z)乃至HP(z)と、上記第2の帯域通過ろ波手段の伝達関数G1(z)乃至GP(z)とは、上記A/D変換手段から出力されるディジタル信号が上記加算手段から出力される受信信号として再現されるような完全再構成条件を実質的に満たすように設定されたことを特徴とするアレーアンテナの制御装置。
IPC (2):
H01Q 3/26 ,  H01Q 3/30
FI (2):
H01Q 3/26 C ,  H01Q 3/30
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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