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J-GLOBAL ID：200903046885782200

異常診断装置

Inventor： 藤本 靖一
Applicant, Patent owner： 光洋精工株式会社
Agent (2)： 山崎 宏 ,  大森 忠孝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004095236
Publication number (International publication number)：2005284519
Application date： Mar. 29, 2004
Publication date： Oct. 13, 2005
Summary：

【課題】 ある監視対象機器からの信号と、それとは別の監視対象機器からの信号が、同じ周波数帯の信号である場合にも、監視対象機器毎に異常の診断ができる異常診断装置を提供すること。【解決手段】 この異常診断装置は、3つのセンサ3,13,23と、3つのセンサ3,13,23の夫々からの信号5,15,25を、前処理装置35を介して信号37として間接的に受ける独立成分分析処理装置40とを備える。上記独立成分分析処理装置40は、独立成分分析を用いて信号37から空間的、時間的および周波数的に独立な成分を分離して抽出した後、この分離して抽出した信号41,42,43を夫々異常判定装置51,52,53に出力するようになっている。上記異常判定装置51,52,53は、夫々、信号41,42,43に基づいて機械1,11,21の異常の有無の診断を行うようになっている。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

複数の監視対象機器の全てからの物理量を各々が検出する複数のセンサと、 上記複数のセンサからの信号を受けて、受けた信号の中から独立な成分を分離して抽出する独立成分分析処理装置と、 上記独立成分分析処理装置からの上記各監視対象機器に対応する出力に基づいて上記各監視対象機の異常の有無を判定する異常判定装置と を備えることを特徴とする異常診断装置。

IPC (1)：

G05B23/02

FI (1)：

G05B23/02 302Y

F-Term (2)：

5H223DD09 ,  5H223EE30

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 機械部品の監視システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-255721   Applicant：エヌティエヌ株式会社