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J-GLOBAL ID:200903047112933591

問題作成装置の成績処理手段

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 下田 容一郎 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994318664
Publication number (International publication number):1996179682
Application date: Dec. 21, 1994
Publication date: Jul. 12, 1996
Summary:
【要約】【目的】 個人、又はグループの成績からその弱点を摘出し、ミスの傾向を解析して、これを次の問題作成に有機的に反映させ、木目細かに弱点補強を行なうことの出来る問題作成装置の成績処理手段を提供すること。【構成】 外部記憶手段に少なくとも教科書の学習単元の章、及び項目に対応した小問が易問から難問迄の単独の小問、及び互いに関連し分離不可能な複数の設問から成る大問が通し番号を付されて多数記憶され、各小問、及び大問に付いて設けられた属性値と個人、又はグループ毎に過去に出題された問題に付いての成績データとを結合し、この成績データを管理するために問題を実施、採点後の各生徒個人、又はグループに対する問題出力履歴データ、各出力問題毎の正誤と得点等のデータを元に個人及びグループの弱点乃至ミスの傾向を解析するための手段を備えたことを特徴とする。
Claim (excerpt):
入力手段、内部記憶手段、外部記憶手段、CPU、表示手段及び印刷手段等を備え、入力手段から入力した指示をCPUで処理し記憶手段に記憶された問題を選択的に表示手段に表示し、印刷手段から所望の問題を印刷する問題作成装置において、前記外部記憶手段に少なくとも教科書の学習単元の章、及び項目に対応した小問が易問から難問迄の単独の小問、及び互いに関連し分離不可能な複数の設問から成る大問が通し番号を付されて多数記憶され、各小問、及び大問に付いて設けられた属性値と個人、又はグループ毎に過去に出題された問題に付いての成績データとを結合し、この成績データを管理するために問題を実施、採点後の各生徒個人、又はグループに対する問題出力履歴データ、各出力問題毎の正誤と得点等のデータを元に個人及びグループの弱点乃至ミスの傾向を解析するための手段を備えたことを特徴とする問題作成装置の成績処理手段。
IPC (2):
G09B 7/02 ,  G09B 19/00
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)

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