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J-GLOBAL ID:200903047126549620

プロファイル計装方法およびプロファイルデータ収集方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 真田 有
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995216355
Publication number (International publication number):1997062544
Application date: Aug. 24, 1995
Publication date: Mar. 07, 1997
Summary:
【要約】【課題】 本発明は、プログラムの挙動を把握すべくプログラム実行時に特定部分の実行時間,繰り返し回数等のプロファイルデータを計測し収集するための方法に関し、並列処理システムでプロファイルを行なうべく、コンパイル処理時に、オリジナルコードと変換コードとの間のマッピングを容易に行なえるようにしながらプロファイル用計装コードの自動挿入を可能にすることを目的とする。【解決手段】 オリジナルソースコードにより逐次形式で記載された並列計算機用プログラムの挙動を把握すべくプログラム実行時にプロファイルデータの計測を指示する計装コードを、コンパイル処理により最適化変換された前記プログラムの変換コード中に挿入するプロファイル計装方法であって、前記コンパイル処理による最適化変換前に、前記プログラムのオリジナルソースコード情報を収集するプロファイル初期化処理(ステップS2)を行なうように構成する。
Claim (excerpt):
オリジナルソースコードにより逐次形式で記載された並列計算機用プログラムの挙動を把握すべくプログラム実行時にプロファイルデータの計測を指示する計装コードを、コンパイル処理により最適化変換された前記プログラムの変換コード中に挿入するプロファイル計装方法であって、前記コンパイル処理による最適化変換前に、前記プログラムのオリジナルソースコード情報を収集するプロファイル初期化処理を行なうことを特徴とする、プロファイル計装方法。
IPC (3):
G06F 11/34 ,  G06F 9/45 ,  G06F 11/28 315
FI (3):
G06F 11/34 S ,  G06F 11/28 315 A ,  G06F 9/44 322 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (1)

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