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J-GLOBAL ID：200903047150747386
アレイ型超音波探触子による硬化層評価装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
,
Agent (1)：
本多 小平 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998084306
Publication number (International publication number)：1999281633
Application date： Mar. 30, 1998
Publication date： Oct. 15, 1999
Summary：
【要約】【課題】 焼き入れ硬化層に超音波を透過してその透過特性から内部硬度を評価するに当たり、透過波の送受信感度を高め、高周波成分の減衰を少なくした硬化層深さ評価装置を提供する。【解決手段】 アレイ型探触子T,Rの各素子から放射して試験体1内に放射する送信側の超音波の音軸の方向を、受信側の超音波の音軸と正対させることで、透過波の送受信感度を最大限に高める。また、弦方向の透過強度を測定して、アーベル変換により試験体1 の内部硬度の分布を推定する。
Claim (excerpt)：
焼き入れを施した試験体に超音波を透過させ、透過した超音波の減衰、音速、周波数等の超音波特性の変化を利用して前記試験体の内部硬度を測定するアレイ型超音波探触子による硬化層評価装置において、前記試験体の内部に前記超音波を透過させるため、前記試験体外表面に超音波送信用と超音波受信用のアレイ型超音波探触子を配置し、該アレイ型超音波探触子の各アレイ素子の音軸の前記試験体への入射角度を個々に調整し、送信用の前記アレイ型超音波探触子の各アレイ素子から放射する前記超音波の前記試験体内での音軸の方向と、これと対応する受信用の前記アレイ型超音波探触子の各アレイ素子の前記試験体内での音軸の方向がそれぞれ正対するように配置したことを特徴としたアレイ型超音波探触子による硬化層評価装置。
IPC (2)：
FI (2)：
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