Pat
J-GLOBAL ID：200903047165181907

エチレン系重合体およびその製造方法

Inventor：
曽根 誠

About 曽根 誠

, 
矢野 明広

About 矢野 明広

, 
佐藤 守彦

About 佐藤 守彦


Applicant, Patent owner：
東ソー株式会社

About 東ソー株式会社


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004089036
Publication number (International publication number)：2005206777
Application date： Mar. 25, 2004
Publication date： Aug. 04, 2005
Summary：
【課題】 高い加工性を有し、透明性・低ヘキサン抽出分量・低温ヒートシール性および強度バランスに優れた特性をも示すエチレン系重合体を提供する。【解決手段】 変性粘土化合物(a)、少なくとも2種類の遷移金属化合物(b)および有機アルミニウム化合物(c)から成るオレフィン重合用触媒を用い、エチレンを単独重合、またはエチレンと炭素数3〜20のα-オレフィンとを共重合するに際し、好ましくは単一の反応容器内で反応を行う。【選択図】 選択図なし
Claim (excerpt)：
エチレン単独重合体、またはエチレンおよび炭素数3〜20のα-オレフィンからなる共重合体であって、 (1)密度が0.900〜0.975g/cm3であり、 (2)メルトフローレート(MFR、荷重2.16kg、温度190°C条件)が0.01〜100g/10分であり、 (3)ゲル・パーミエーション・クロマトグラフィー(GPC)測定で求められるMw/Mn(Qw)が3.0以上であり、 (4)ゲル・パーミエーション・クロマトグラフィー(GPC)測定で求められるMz/Mw≧(Mw/Mn+0.5)の関係を満たし、 (5)ゲル・パーミエーション・クロマトグラフィー(GPC)測定で得られる分子量パターンから分子量100万g/モル以上の分子量成分がポリマー全重量の0.1〜5.0重量%であり、 (6)ゲル・パーミエーション・クロマトグラフィー(GPC)測定で得られる分子量パターンから半値幅(Log(MH/ML)<1.1の関係を満たす ことを特徴とするエチレン系重合体。
IPC (2)：
C08F10/02 ,  C08F4/642
FI (2)：
C08F10/02 ,  C08F4/642
F-Term (63)：
4J100AA02P ,  4J100AA03Q ,  4J100AA04Q ,  4J100AA07Q ,  4J100AA15Q ,  4J100AA16Q ,  4J100AA19Q ,  4J100AA21Q ,  4J100CA01 ,  4J100CA04 ,  4J100DA04 ,  4J100DA05 ,  4J100DA12 ,  4J100DA42 ,  4J100FA10 ,  4J100FA19 ,  4J100FA22 ,  4J100FA47 ,  4J128AA01 ,  4J128AB00 ,  4J128AB01 ,  4J128AC01 ,  4J128AC09 ,  4J128AC10 ,  4J128AC27 ,  4J128AC28 ,  4J128AD01 ,  4J128AD02 ,  4J128AD05 ,  4J128AD06 ,  4J128AE15 ,  4J128BA00A ,  4J128BA01B ,  4J128BB00A ,  4J128BB01B ,  4J128BC15B ,  4J128BC16B ,  4J128BC17B ,  4J128BC24B ,  4J128CA30C ,  4J128DA01 ,  4J128DA02 ,  4J128DA03 ,  4J128DA04 ,  4J128DB02A ,  4J128DB02B ,  4J128DB02C ,  4J128DB03A ,  4J128DB03B ,  4J128DB03C ,  4J128EA01 ,  4J128EB02 ,  4J128EB04 ,  4J128EB05 ,  4J128EB09 ,  4J128EB10 ,  4J128EC01 ,  4J128EC02 ,  4J128FA02 ,  4J128FA04 ,  4J128GA05 ,  4J128GA06 ,  4J128GA08
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
Show all
Cited by examiner (4)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM