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J-GLOBAL ID：200903047217544027

眼科測定装置

Inventor： 楠城 紹生 ,  河村 益徳
Applicant, Patent owner： 株式会社ニデック
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995352687
Publication number (International publication number)：1997182725
Application date： Dec. 28, 1995
Publication date： Jul. 15, 1997
Summary：

【要約】【課題】 簡単な構成で、眼球内部の測定部位を明確にするための観察を容易にする。【解決手段】 レ-ザ投光光学系により被検眼前眼部に向けてレ-ザ光を収束投光し、このレ-ザ光による前眼部内部組織による散乱光を光電変換素子に導いて受光し、光電変換素子からの出力信号に基づいて前眼部内部の組織組成を測定する。測定部位へのアライメントは、レ-ザ走査手段によりレ-ザ光を走査し、走査されたレ-ザ光により光切断される前眼部断面像を観察光学系を介して観察しながら行う。測定時はレ-ザ走査手段の走査を停止し、所定の方向にレ-ザ光を位置させて測定を実行する。

Claim (excerpt)：

被検眼前眼部に向けてレ-ザ光を収束投光するレ-ザ投光光学系と、該レ-ザ光による前眼部内部組織による散乱光を光電変換素子に導いて受光する散乱光受光光学系と、前記光電変換素子からの出力信号に基づいて前眼部内部の組織組成を測定する測定手段とを備える眼科測定装置において、前記レ-ザ光を走査するレ-ザ走査手段と、該レ-ザ走査手段の駆動を制御する制御手段と、走査されたレ-ザ光により光切断される前眼部断面を観察する観察光学系と、を有することを特徴とする眼科測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平1-285242
  
• 眼の厚度計及び眼の測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-143347   Applicant：オーブテック,インコーポレイティド