Pat
J-GLOBAL ID：200903047342668617
眼測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
日比谷 征彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996021959
Publication number (International publication number)：1997192101
Application date： Jan. 12, 1996
Publication date： Jul. 29, 1997
Summary：
【要約】【目的】 被検眼の位置合わせを容易かつ確実に行って精度の良い眼測定ができる。【構成】 測定用光源1からの光束による被検眼Eの角膜Cからの反射光は、観察用テレビカメラ7に結像し、角膜反射像C’が前眼部照明用光源4による前眼部像E’と共にテレビモニタ12に映出される。一方、テレビカメラ12には眼底Rからの反射光も入射され、眼底反射光と角膜反射光による干渉縞が発生する。この信号を信号処理手段11に取り込み干渉縞の移動量を解析する。被検眼Eが光路O2上に垂直になったときに光路O2上に角膜反射像C’が形成されるので、測定中はこの角膜反射像C’を監視して、正確に干渉縞の位置合わせを行う。
Claim (excerpt)：
被検眼に観察光束を照射し角膜及び眼底からの反射光を干渉させて眼測定を行う眼測定光学系と、被検眼の視線を固定させる固視手段と、前眼部と角膜反射像を観察する位置合わせ観察光学系とを有し、前記角膜反射像により位置合わせをして眼測定を行うことを特徴とする眼測定装置。
FI (2)：
A61B 3/10 Z
, A61B 3/10 R
