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J-GLOBAL ID：200903047353119178

画像計測方法及び画像計測装置

Inventor： 真継 優和 ,  飯島 克己 ,  近藤 俊明 ,  矢野 光太郎 ,  倉橋 直 ,  石川 基博
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 丹羽 宏之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995330505
Publication number (International publication number)：1997170914
Application date： Dec. 19, 1995
Publication date： Jun. 30, 1997
Summary：

【要約】【目的】 被写体画像の入力により画像計測ができる画像計測装置。【構成】 左カメラと右カメラとよりなる複眼の撮像装置1を主制御部10によって制御して、既知のパターンを有する平面状物体2と平面状物体2の上に置かれた立体状の被写体3を撮像し、画像処理手段4、形状データ記憶手段12およびモニタ5などによって、画像計測を行う。

Claim (excerpt)：

既知のパターンおよび被写体を含む複数視点位置からの画像に基づき該画像の撮像パラメータを抽出することを特徴とする画像計測方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 写真測量方法及び該方法に用いる標定点指示装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-348647   Applicant：三井建設株式会社
• 特開平4-102178
  
• 三次元情報再構成装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-275806   Applicant：オリンパス光学工業株式会社