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J-GLOBAL ID：200903047515053257

パターン分類装置及びこの装置を利用する状態監視システム

Inventor：
上石 陽一

About 上石 陽一

, 
渡辺 正明

About 渡辺 正明


Applicant, Patent owner：
株式会社アドイン研究所

About 株式会社アドイン研究所


Agent (1)： 伊東 忠彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994126604
Publication number (International publication number)：1995334479
Application date： Jun. 08, 1994
Publication date： Dec. 22, 1995
Summary：
【要約】【目的】 本発明は、特徴量ベクトルを意味付けのされていないパターンに分類するパターン分類装置の提供を目的とする。【構成】 本発明のパターン分類装置は、特徴量を入力する入力ノードと、特徴量と特徴量パターンとの合致度を算出するパターンマッチング部と、特徴量ベクトルと特徴量パターンセットとの合致度を算出し出力する出力ノードと、特徴量ベクトルと既存の特徴量パターンセットの近似度を判定する近似度判定手段と、新しい特徴量ベクトルのパターン種別に対応する新しい出力ノード及び新しい特徴量パターンセットを生成し追加するパターンセット追加手段と、特徴量パターンセットを変形するパターンセット変形手段とからなる。
Claim (excerpt)：
計測データ等より抽出された少なくとも一の特徴量を有する特徴量ベクトルを入力する入力ノードと;該入力ノードに接続され、該入力ノードから入力される該特徴量と該特徴量に対応する特徴量パターンとの合致度であるパターン合致度を算出するパターンマッチング部と;該パターンマッチング部に接続され、該パターン合致度を入力して、該特徴量ベクトルと、該特徴量ベクトルに含まれる該特徴量の各々に対応する該特徴量パターンの組よりなる特徴量パターンセットとの合致度であるパターンセット合致度を算出し、該特徴量ベクトルの種別に対応する該パターンセット合致度を出力する出力ノードとからなる推論部を有し、該特徴量ベクトルのパターン種別を分類するパターン分類装置であって、該出力ノードの各々において得られる該パターンセット合致度に基づいて、該特徴量ベクトルが既存の該特徴量パターンセットの何れかに近似しているかどうかを判定する近似度判定手段と;該特徴量ベクトルが既存の該特徴量パターンセットの何れとも近似していないと判定された場合、該特徴量ベクトルの新しいパターン種別に対応する新しい出力ノードと、該新しい出力ノードに接続され新しい特徴量パターンよりなる新しい特徴量パターンセットとを生成して該推論部に追加するパターンセット追加手段と;該特徴量ベクトルが既存の何れかの該特徴量パターンセットと近似していると判定された場合、該特徴量に応じて近似していると判定された該特徴量パターンセットに含まれる特徴量パターンを変形するパターンセット変形手段とを更に有することを特徴とするパターン分類装置。
IPC (4)：
G06F 15/18 540 ,  G06F 15/18 560 ,  G01B 11/24 ,  G06F 9/44 550
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (4)
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