Pat
J-GLOBAL ID:200903047555056585

ICP発光分析における試料の供給方法および供給装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 須賀 総夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992084138
Publication number (International publication number):1993288682
Application date: Apr. 06, 1992
Publication date: Nov. 02, 1993
Summary:
【要約】【目的】 ICP発光分析において、分析試料の利用率を高めるとともに濃縮試料の使用を可能にし、感度を高める。【構成】 溶液状または粉末状の試料を黒鉛容器に保持するか、溶液を回転電極に付着させてとり出し、黒鉛容器または回転電極と、それらに対向させて設けた電極との間でアーク放電を行ない、発生した熱で試料を気化させ、気化した試料をキャリアガスにのせてプラズマトーチ部へ導入する。
Claim (excerpt):
導電性の容器に溶液状または粉末状の分析試料を保持するか、または溶液状の分析試料を容器に保持して回転電極の下部をこの溶液に浸積して回転させることにより試料を付着させ、上記の導電性容器または回転電極と、それらに対向して設けた電極との間でアーク放電を行なって発生する熱により試料を気化させ、気化した試料をキャリアガスにのせてプラズマトーチ部に導入することからなるICP発光分析における試料の供給方法。
IPC (2):
G01N 21/73 ,  G01N 1/22

Return to Previous Page