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J-GLOBAL ID：200903047600615353

光学式変位計の位置検出方法およびこの方法を用いた光学式変位計

Inventor： 寺前 勝広 ,  紙谷 敦
Applicant, Patent owner： 松下電工株式会社
Agent (1)： 中井 宏行
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991224953
Publication number (International publication number)：1993045163
Application date： Aug. 08, 1991
Publication date： Feb. 23, 1993
Summary：

【要約】【目的】光学式変位計において、受光信号の増幅率をできる限り低減させるようにして、処理信号の分解能、安定性を向上させる。【構成】位置検出素子105から出力される一対の位置信号の各々を、予め設定された複数の増幅率のなかから選択された増幅率で増幅し、増幅された一対の位置信号の加算信号が、信号処理可能な所定の最大レベルEHおよび最小レベルELで定まるウインドレベル内で、且つ、ウインドレベル内の所定の中間レベルEMよりも低くなるように、上記各々の増幅率を同時に順次増加あるいは低減させるようにする。

Claim (excerpt)：

発光素子から物体に向けて変調光を出力し、物体による反射光を、受光位置に応じた一対の位置信号を出力する位置検出素子で受光して物体の変位量を測定するようにした光学式変位計に用いられる位置検出方法であって、上記位置検出素子から出力される一対の位置信号の各々を、予め設定された複数の増幅率のなかから選択された増幅率で増幅し、増幅された一対の位置信号の加算信号が、信号処理可能な所定の最大レベルおよび最小レベルで定まるウインドレベル内で、且つ、ウインドレベル内の所定の中間レベルよりも低くなるように、上記各々の増幅率を同時に順次増加あるいは低減させるようにした光学式変位計の位置検出方法。