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J-GLOBAL ID：200903047601344345
四重極質量分析計
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小沢 信助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991035951
Publication number (International publication number)：1993036376
Application date： Mar. 01, 1991
Publication date： Feb. 12, 1993
Summary：
【要約】【目的】試料中に共存する高質量数のイオンによる妨害を受けることなく低質量数のイオンを正確に測定できるようにした四重極質量分析計を提供する。【構成】四重極質量分析計において、イオン源と、該イオン源から導かれたイオンを収束する第1のイオンレンズと、第1の四重極マスフィルタと、該第1四重極マスフィルタを通過したイオンを収束する第2のイオンレンズと、第2四重極マスフィルタとを設け、第1イオンレンズで収束されたイオンが第1四重極マスフィルタを通過し、その後、第2イオンレンズで収束されてのち第2四重極マスフィルタを通過するようにしたもの。
Claim (excerpt)：
イオン源と、該イオン源から導かれたイオンを収束する第1のイオンレンズと、第1の四重極マスフィルタと、該第1四重極マスフィルタを通過したイオンを収束する第2のイオンレンズと、第2四重極マスフィルタとを具備し、前記第1イオンレンズで収束されたイオンが第1四重極マスフィルタを通過し、その後、前記第2イオンレンズで収束されてのち第2四重極マスフィルタを通過することを特徴とする四重極質量分析計。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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