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J-GLOBAL ID：200903047605664603

ソフトウェアプログラムの自動テストシステム

Inventor： 廣部 祐司 ,  石川 貞裕 ,  山口 潔
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 作田 康夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001177920
Publication number (International publication number)：2002366387
Application date： Jun. 13, 2001
Publication date： Dec. 20, 2002
Summary：

【要約】【課題】自動テストシステムの構築工数、被テスト側の仕様変更を自動テストシステムへ反映する工数を削減する。【解決手段】インタフェース定義やデータ長といった定義情報をもとに、画面の基本仕様からスタブ・ドライバを生成し、標準シナリオや標準スクリプトからスクリプトを生成する。それら生成物をもとに自動テスト機構が自動テストを行う。このとき被テストプログラムの各機能を複数の標準機能から構成し、標準機能の処理順序を標準シナリオとすると一件の標準シナリオを複数の機能のテストに流用できる。同時に、標準機能や標準シナリオなどの単位でシナリオを準備できる。定義情報とプログラム仕様から被テストプログラムを生成してもよい。【効果】標準シナリオや標準スクリプトの規模を縮小できる。テストシステム全体へ仕様変更を反映するには、基本的に定義情報のみ変更すればよい。

Claim (excerpt)：

インタフェース等の定義情報を格納する定義情報格納部と、前記定義情報とスタブもしくはドライバの画面の基本仕様からスタブもしくはドライバを生成するスタブ・ドライバ生成部と、前記定義情報と、事前準備する標準シナリオおよび標準スクリプトとから期待値、テストデータ、スクリプトを生成するテスト資源生成部と、テスト資源生成部の生成物をもとにスタブ・ドライバ生成部が生成したスタブもしくはドライバを用いて被テストプログラムのテストを自動的に行う自動テスト実行部とを備えたことを特徴とするソフトウェアプログラムの自動テストシステム。

F-Term (6)：

5B042GA08 ,  5B042HH07 ,  5B042HH12 ,  5B042HH13 ,  5B042HH17 ,  5B042HH49