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J-GLOBAL ID：200903047792325825
多機能測量計測システム
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
吉田 芳春
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994181473
Publication number (International publication number)：1996043098
Application date： Aug. 02, 1994
Publication date： Feb. 16, 1996
Summary：
【要約】【目的】 一般測量と内空変位や天端沈下量を求める特殊測量とを行う際の測定装置を共通化して部品点数を削減するとともに、そのト-タルコストを大幅に低減させることができる。【構成】 測距、測角を行ない測距データと測角データとを得るトータルステーション2と、トータルステーション2で得られた測距データと測角データとを受信してデータ処理を実行するデータコレクタ3とを備え、トータルステーション2は、一般測量対応の測定を行う一般モードと、特殊測量対応の測定を行う特殊モードとを有し、データコレクタ3は、トータルステーション2に対して一般モードや特殊モードを指示するキーボード部11と、トータルステーション2から測距データと測角データとを受信してキーボード部11の指示するモードに応じたデータ処理を行い測量結果を得る電子機器12とを有する。
Claim (excerpt)：
測量対象となる対象部に対して測距、測角を行ない測距データと測角データとを得る測定装置と、該測定装置で得られた測距データと測角データとを受信して該測距データと測角データとに基づくデータ処理を実行するデータ処理端末とを備える多機能測量計測システムであって、前記測定装置は、一般測量に対応した測定を行う一般モードと、内空変位や天端沈下量を求めるための特殊測量に対応した測定を行う特殊モードとを有し、前記データ処理端末は、前記測定装置に対して前記一般モードと前記特殊モードとのいずれかひとつのモードを指示する指示手段と、前記測定装置から測距データと測角データとを受信して前記指示手段により指示されたモードに応じたデータ処理により測量結果を得るデータ処理手段とを有することを特徴とする多機能測量計測システム。
IPC (5)：
G01C 15/00
, G01B 11/00
, G01B 11/26
, G01C 7/06
, G01C 15/06
