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J-GLOBAL ID：200903047877883673

土壌光学特性測定装置

Inventor： 平子 進一
Applicant, Patent owner： オムロン株式会社
Agent (1)： 中村 茂信
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998100796
Publication number (International publication number)：1999295216
Application date： Apr. 13, 1998
Publication date： Oct. 29, 1999
Summary：

【要約】【課題】 土壌の光学特性を精度良く測定することにより土壌成分の測定精度を向上させ得る土壌光学特性測定装置を提供する。【解決手段】 地表面S1 から予め定めた深さd0 までの土壌Sを取り除いて新たな土壌面S2 を表出するための切削刃10と、土壌面S2 を加圧して平坦にすると共に、土壌の密度や粒度を均一化する圧印加ローラ20と、圧印加ローラ20により整地された土壌面S3 に光Laを照射すると共に、土壌面S3 からの反射光Lbを集光検出して土壌の光学特性を測定する測定ユニット30とを備える。

Claim (excerpt)：

土壌の地表面を進行しながら土壌を掘り起こして土壌の光学特性を測定し、それに基づいて土壌成分を求める測定装置であって、土壌の地表面から予め定めた深さまでの土壌を取り除いて前記深さの土壌面を表出するための切削刃と、この切削刃の後方に配置され、切削刃により表出した土壌面を加圧して平坦にすると共に、土壌の密度や粒度を均一化する圧印加手段と、この圧印加手段の後方に配置され、圧印加手段により整地された土壌面に光を照射すると共に、土壌面からの反射光を集光検出して土壌の光学特性を測定する光センサ手段とを備えることを特徴とする土壌光学特性測定装置。

IPC (3)：

G01N 21/27 ,  A01G 7/00 602 ,  G01N 33/24

FI (3)：

G01N 21/27 B ,  A01G 7/00 602 Z ,  G01N 33/24 B