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J-GLOBAL ID：200903047947419520

レーザ誘導微分正規化蛍光式癌診断方法及び装置

Inventor： ヴォー-デン、チューアン ,  パナジェプー、マソード ,  オバーホルト、バージェン・エフ
Applicant, Patent owner： ロッキード・マーチン・エナジー・システムズ・インク
Agent (1)： 山崎 行造 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1996512027
Publication number (International publication number)：1997506027
Application date： Sep. 29, 1995
Publication date： Jun. 17, 1997
Summary：

【要約】本発明は生きたままの癌を診断する装置及び方法である。レーザ12及び調整可能な染色システム14が出力光線を発生させ、その光線が光学繊維束18によって検査すべき組織に運ばれる。組織によって発せられるレーザ誘導蛍光が、束18を通してスペクトログラフ24を有するセンサ及びスペクトルを生成させる多重チャンネル検出器26へ伝えられる。スペクトルは、微分正規化された蛍光を用いて癌性組織を診断するコンピュータ28で分析され、そこでは各波長における強度が、スペクトル内の統合された領域によって分割され、正常な組織サンプルからの正規化されたスペクトルと比較される。

Claim (excerpt)：

1 組織サンプルを処与の波長を有する単色励起光にさらし、 該励起光と該組織サンプルとの相互作用によって発生された放射エネルギから蛍光スペクトルを生成させ、 微分正規化された蛍光(DNF)曲線を生成させるために、基準となる一組の正常組織の調和されたスペクトルの平均値から該正規化されたスペクトルを引き、 該微分正規化されたスペクトルを該組織サンプルの特殊な状態と相関させることから成る医療診断実行方法。2 前記さらす段階が、該組織サンプルを約410nmの波長を有する単色励起光にさらすことを含む、請求項1の方法。3 前記相関段階が、基線を設定するために先験的に一組の正常組織を確認し、正規化されたスペクトルを生成させるために該スペクトル内の統合された領域によって該スペクトルの各波長において該強度を分割し、該正規化されたスペクトルを該基線と比較することを含む、請求項1の方法。4 前記相関段階が、正常な組織が蛍光を発する波長を決定し、正常組織の蛍光の消耗を確認することを含む、請求項1の方法。5 前記相関段階が、該正規化されたスペクトルの第1、第2又は第n導関数曲線を比較することを含む、請求項1の方法。6 前記相関段階が、該微分正規化された蛍光スペクトルの第1、第2又は第n導関数曲線を比較することを含む、請求項1の方法。7 処与の波長を有する単色励起光を組織サンプルヘ放射する装置と、 該励起光と該組織サンプルとの相互作用によって発生された放射エネルギからレーザ誘導蛍光スペクトルを生成させる装置と、 微分正規化されたスペクトルを生成させるために、該スペクトルの各波長における強度を該スペクトル内の統合された領域によって分割する装置と、 該微分正規化されたスペクトルを該組織サンプルの特殊な状態と相関させる装置とから成る医療診断実行装置。8 前記放射装置が、約410nmの波長を有するレーザを含む、請求項1の装置。9 前記放射装置が、内視鏡及び光学繊維束をさらに含み、励起光を内視鏡に向けると共に別の光学繊維束を通して該組織からの放射エネルギを検出するようにする、請求項8の装置。10 前記放射装置がパルス状レーザを含み、前記相関装置が時分割モードで用いられるゲート制御された光検出器である、請求項7の装置。11 前記放射装置が約410nmの波長を有するパルス状レーザを含み、前記相関装置が時分割モードで用いられるゲート制御された光検出器である、請求項7の装置。12 前記放射装置が変調されたレーザを含み、前記相関装置が位相分割モードで作動される同期化された光検出器を含む、請求項7の装置。13 前記放射装置が約410nmにおいて振幅変調された光を生成させるレーザを含み、前記相関装置が位相分割モード作動される同期化された光検出器を含む、請求項7の装置。14 該蛍光発光が約480nmで行われる、請求項8の装置。15 該蛍光発光が約660nmで行われる、請求項8の装置。

IPC (2)：

A61B 10/00 ,  A61B 1/00 300

FI (3)：

A61B 10/00 T ,  A61B 10/00 E ,  A61B 1/00 300 D

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平1-250740
  
• 特開昭63-252134
  
• 特表平3-504280