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J-GLOBAL ID：200903048054022903

表面プラズモン共鳴測定装置

Inventor：
羽毛田 靖

About 羽毛田 靖

, 
嶋田 耕一

About 嶋田 耕一

, 
奥村 剛人

About 奥村 剛人


Applicant, Patent owner：
東亜ディーケーケー株式会社

About 東亜ディーケーケー株式会社


Agent (5)： 志賀 正武 ,  高橋 詔男 ,  渡邊 隆 ,  青山 正和 ,  柳井 則子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006092620
Publication number (International publication number)：2007263901
Application date： Mar. 30, 2006
Publication date： Oct. 11, 2007
Summary：
【課題】表面プラズモン共鳴測定装置において、迅速かつ高精度に表面プラズモン共鳴現象を測定することができる【解決手段】一方の面に試料溶液50を接触する金属薄膜6bと、その他方の面側で全反射可能に設けられたプリズム5と、プリズム5に金属薄膜6bの他方の面の位置で全反射するような光を入射する光源部9と、反射光52の光強度を検出する2次元撮像素子8bと、全反射の入射角が一定の状態で入射光51aの波長を選択的に規制する波長可変液晶フィルタ4と、波長可変液晶フィルタ4の選択波長を変化させて金属薄膜6bでの表面プラズモン共鳴の波長特性を取得することにより、試料溶液50の性状を測定する測定制御ユニット11とを備える。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
一方の面に試料を接触する金属薄膜と、 該金属薄膜の他方の面側で全反射可能に設けられた光透過部材と、 該光透過部材に、前記金属薄膜の他方の面の位置で全反射するような光を入射する光源と、 前記金属薄膜の他方の面の位置で全反射された光の光強度を検出する光検出器と、 前記全反射の入射角が一定の状態で前記全反射の入射光または反射光の波長を選択的に規制する波長規制手段と、 前記波長規制手段の選択波長を変化させて前記金属薄膜での表面プラズモン共鳴の波長特性を取得することにより、前記試料の性状を測定する測定制御ユニットとを備えることを特徴とする表面プラズモン共鳴測定装置。
IPC (1)：
G01N 21/27
FI (1)：
G01N21/27 C
F-Term (20)：
2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059CC15 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ19 ,  2G059KK01 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM12 ,  2G059PP04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (4)
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