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J-GLOBAL ID：200903048087069719
材料検査装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995092199
Publication number (International publication number)：1996211022
Application date： Apr. 18, 1995
Publication date： Aug. 20, 1996
Summary：
【要約】【目的】 放射線源、およびそこから発生する放射線が存在する環境下でも使用可能な材料検査装置を提供する。【構成】 材料検査装置を、少なくとも一部分に超電導体を用いた磁気センサを含んで構成した検出回路1と、少なくとも前記検出回路から出力された信号を処理する半導体回路を含んで構成した信号処理回路2と、前記検出回路1と前記信号処理回路2の間の信号伝達手段とを少なくとも含んで構成し、前記信号処理回路2は放射線の線量当量が前記検出回路1と同じか、もしくは、より小さい場所に設置する。【効果】 高精度、高信頼、高効率、および長時間連続使用が可能で、回路動作の安定性にも優れた検査装置を実現できる。
Claim (excerpt)：
少なくとも一部分に超電導体を用いた磁気センサを含んで構成した検出回路と、少なくとも前記検出回路から出力された信号を処理する半導体回路を含んで構成した信号処理回路と、前記検出回路と前記信号処理回路間の信号伝達手段とを少なくとも含んで構成し、前記信号処理回路は放射線の線量当量が前記検出回路と同じか、もしくは、より小さい場所に設置されていることを特徴とする材料検査装置。
IPC (3)：
G01N 27/82
, G01R 33/035 ZAA
, G01R 33/12 ZAA
