Pat
J-GLOBAL ID:200903048088155031
超低温校正方法および超低温校正装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003108971
Publication number (International publication number):2004317193
Application date: Apr. 14, 2003
Publication date: Nov. 11, 2004
Summary:
【課題】被校正温度センサーの設置場所またはその近傍で、被校正温度センサーと信号ケーブルと表示装置を含む超低温測定装置全体としての実温度校正が行える超低温校正方法および超低温校正装置を提供すること。【解決手段】信号ケーブルを介して表示装置に接続された被校正温度センサーが設置されている場所またはその近傍に移動可能に構成された超低温校正装置を搬送し、信号ケーブルを介して表示装置に接続された被校正温度センサーを標準温度センサーとともに超低温校正装置に挿入することにより、被校正温度センサーの実温度校正を行うことを特徴とするもの。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
信号ケーブルを介して表示装置に接続された被校正温度センサーが設置されている場所またはその近傍に移動可能に構成された超低温校正装置を搬送し、信号ケーブルを介して表示装置に接続された被校正温度センサーを標準温度センサーとともに超低温校正装置に挿入することにより、被校正温度センサーの実温度校正を行うことを特徴とする超低温校正方法。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (2):
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
-
温度センサー用検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-363833
Applicant:対馬秀人
-
温度校正槽及びその温度安定化方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-047685
Applicant:山里産業株式会社
-
蓄熱槽の水温計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-066420
Applicant:株式会社高岳製作所, 東京電力株式会社
Return to Previous Page