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J-GLOBAL ID:200903048088155031

超低温校正方法および超低温校正装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003108971
Publication number (International publication number):2004317193
Application date: Apr. 14, 2003
Publication date: Nov. 11, 2004
Summary:
【課題】被校正温度センサーの設置場所またはその近傍で、被校正温度センサーと信号ケーブルと表示装置を含む超低温測定装置全体としての実温度校正が行える超低温校正方法および超低温校正装置を提供すること。【解決手段】信号ケーブルを介して表示装置に接続された被校正温度センサーが設置されている場所またはその近傍に移動可能に構成された超低温校正装置を搬送し、信号ケーブルを介して表示装置に接続された被校正温度センサーを標準温度センサーとともに超低温校正装置に挿入することにより、被校正温度センサーの実温度校正を行うことを特徴とするもの。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
信号ケーブルを介して表示装置に接続された被校正温度センサーが設置されている場所またはその近傍に移動可能に構成された超低温校正装置を搬送し、信号ケーブルを介して表示装置に接続された被校正温度センサーを標準温度センサーとともに超低温校正装置に挿入することにより、被校正温度センサーの実温度校正を行うことを特徴とする超低温校正方法。
IPC (1):
G01K15/00
FI (1):
G01K15/00
F-Term (2):
2F056XA01 ,  2F056XA07
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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