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J-GLOBAL ID：200903048118500316

テラワットテーブルトップレーザーを用いた放射化分析法

Inventor： 早川 岳人
Applicant, Patent owner： 日本原子力研究所
Agent (1)： 社本 一夫 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001247071
Publication number (International publication number)：2003057196
Application date： Aug. 16, 2001
Publication date： Feb. 26, 2003
Summary：

【要約】【課題】 テラワットテーブルトップレーザーによって試料を放射化して行う放射化元素分析法に関するものである。【解決手段】 テラテーブルトップレーザーによって発生するγ線を試料に照射することで放射化を行い、放射化した試料が崩壊する時に放射するγ線(X線)を測定することによって元素分析を行う方法。

Claim (excerpt)：

テラワットテーブルトップレーザーによって発生するγ線を試料に照射することで放射化を行い、放射化した試料が崩壊する時に放射するγ線(X線)を測定することによって元素分析を行う方法。

F-Term (6)：

2G001AA02 ,  2G001AA07 ,  2G001BA01 ,  2G001BA02 ,  2G001CA02 ,  2G001GA01