Pat
J-GLOBAL ID：200903048210114899
表面検査における撮像範囲検出方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
原 謙三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993258238
Publication number (International publication number)：1995113626
Application date： Oct. 15, 1993
Publication date： May. 02, 1995
Summary：
【要約】【構成】 車体に対して、所定の光照射域を有する光を照射し、その車体上の光の照射領域を順次移動させながら撮像することにより、上記車体を検査する表面検査において、撮像した画像を2値化処理した画像データから、撮像した画像における照射領域の輪郭を構成する端点を検出する。そして、この端点の座標を基に、照射領域の移動方向に対向する端点間のヒストグラムをとり、このヒストグラムの最小値から撮像ピッチ幅Pを検出し、これを基に画像取込のタイミングを制御する。【効果】 表面形状に応じた撮像ピッチ幅が検出されるので、段差等により画像取込幅に変化が生じた場合でも、検査漏れを生じることなく、被検査面全体に対して検査を行える。
Claim (excerpt)：
所定の光照射域を有する光を被検査面に照射し、このとき撮像手段で得られる被検査面上の光照射領域に対応した撮像範囲を検査領域として検出して、この検出範囲を基に光照射領域および撮像手段を次の検査領域へと被検査面に対して相対的に移動させて検査を行う表面検査における撮像範囲検出方法であって、段差を有する被検査面に上記光を照射したとき、上記撮像手段で得られる画像を2値化処理した画像データから、上記撮像範囲の輪郭を形成する端点を検出すると共に、上記移動方向に相対向する端点間のヒストグラムを移動方向に直交する方向に順次求め、これらヒストグラムの最小値を、上記光照射領域および撮像手段を移動させるときの基準値とすることを特徴とする表面検査における撮像範囲検出方法。
IPC (2)：
Return to Previous Page
