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J-GLOBAL ID：200903048212721997

受光素子特性補正方法及び装置並びにそれらを備えた撮像装置

Inventor： 粟本 健司 ,  坂地 陽一郎 ,  澤田 亮
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 石川 泰男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995217945
Publication number (International publication number)：1997065214
Application date： Aug. 25, 1995
Publication date： Mar. 07, 1997
Summary：

【要約】【課題】 各受光素子の受光特性が経時変化により変動した場合でも、精度よく変動(ずれ)を補正することが可能な受光素子特性補正装置を提供する。【解決手段】 各受光素子の出力信号SO を多点補正方法により補正した補正出力信号SORを更に補正して再補正出力信号SORR を得、これに基づいて画像化する。具体的には、チョッパCにより撮像対象からの赤外線IRを遮るとともに、チョッパCの温度を一定に保って均一化した赤外線IR’を撮像素子100に入射させ、補正値算出回路1により、そのときの各受光素子からの出力信号SO の平均値と各出力信号SO との誤差を算出し、当該誤差に基づき経年変化による変動を補正するための補正値SCRを算出し、記憶回路2に記憶する。そして、チョッパCを操作して撮像対象からの赤外線IRを撮像素子100に照射し、そのときの出力信号SO を補正値SCRにより補正演算回路3で補正し、再補正出力信号SORR を出力する。

Claim (excerpt)：

複数の受光素子を備えた撮像素子における各前記受光素子毎の受光特性を補正する受光素子特性補正方法において、入射光を均一化し、均一化入射光を生成して前記複数の受光素子に照射する入射光均一化工程と、前記均一化入射光が入射しているときの前記受光素子の出力信号の平均値を算出する平均値算出工程と、前記平均値と前記均一化入射光が入射しているときの各前記出力信号との誤差を各前記出力信号毎に算出する誤差算出工程と、各前記誤差に基づいて、当該誤差を補正する補正値を算出する補正値算出工程と、撮像時において、各前記補正値に基き、当該補正値に対応する各前記出力信号を補正する補正工程と、を備えたことを特徴とする受光素子特性補正方法。

IPC (4)：

H04N 5/335 ,  H01L 27/146 ,  H01L 27/14 ,  H04N 5/33

FI (4)：

H04N 5/335 P ,  H04N 5/33 ,  H01L 27/14 A ,  H01L 27/14 K