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J-GLOBAL ID：200903048220339783

偏波無依存リフレクトメトリー及び偏波無依存リフレクトメータ

Inventor： 高田 和正 ,  森 徹 ,  堀口 正治
Applicant, Patent owner： 日本電信電話株式会社 ,  安藤電気株式会社 ,  エヌティティエレクトロニクス株式会社
Agent (1)： 吉田 精孝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998271087
Publication number (International publication number)：2000097856
Application date： Sep. 25, 1998
Publication date： Apr. 07, 2000
Summary：

【要約】【課題】 局発光の偏光状態を調整することなく被測定光回路の反射率分布を測定できる偏波無依存リフレクトメトリー及び偏波無依存リフレクトメータを提供すること。【解決手段】 光源1から出射された光を光ファイバカプラ2で分岐し、一方を測定光として被測定光モジュール3に入射し、他方を局発光として光ファイバ遅延線5、リフレクタ25等によって群遅延を与えた後、被測定光モジュール3からの反射光と光ファイバカプラ21で合波させて干渉させる際、偏光子と偏光状態を0 ゚及び90 ゚に任意に回転させる偏波回転装置とからなる偏波回転用光モジュール100を用いて、それぞれの偏波回転角でビート信号を発生させ、それらの強度の和をとることにより、局発光と反射光の偏光状態に拘わらず反射光パワーの測定を可能とする。

Claim (excerpt)：

低コヒーレンス光を二分し、そのうちの一方を測定光として被測定光回路に入射し、他方を局発光として任意に変更可能な群遅延量を与えた後、前記測定光が被測定光回路の伝搬距離に応じた各地点で反射されて発生する反射光と合波させて干渉させ、該干渉光の強度を検出し、これより前記被測定光回路の伝搬距離に応じた各地点の反射率を前記群遅延量の関数として測定するリフレクトメトリーにおいて、偏光度が0.3以下の低コヒーレンス光を用いるとともに、該偏光度を保持させて反射光及び局発光を干渉させ、局発光または反射光のいずれか一方を直線偏光状態とするとともに、所定の群遅延量において局発光または反射光のいずれか一方の偏光状態をθ=0 ゚及びθ=90 ゚回転させた時の干渉光の強度I0及びI90をそれぞれ測定し、I0+I90を求めて前記所定の群遅延量に対応する被測定光回路の伝搬距離に応じた地点の反射率を測定することを特徴とする偏波無依存リフレクトメトリー。

F-Term (11)：

2G059AA02 ,  2G059BB15 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059EE09 ,  2G059FF01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG04 ,  2G059HH01 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 特開平4-265834
  

Cited by examiner (1)

• 特開平4-265834