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J-GLOBAL ID：200903048240564066

ネマチック液晶素子の方位角方向のアンカリングエネルギ-測定方法

Inventor： 木村 宗弘 ,  赤羽 正志
Applicant, Patent owner： 株式会社東陽テクニカ
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995249387
Publication number (International publication number)：1997089760
Application date： Sep. 27, 1995
Publication date： Apr. 04, 1997
Summary：

【要約】【課題】 液晶セルの方位角方向のアンカリングエネルギ-を求めること。【解決手段】 レ-ザ光源から放射されるレ-ザ光を偏光子を介して偏光させた後、液晶セルに入射させ、この液晶セルから出射したレ-ザ光を検光子を介して光透過率Tを光検出器で測定することにより上記液晶セルの方位角方向のアンカリングエネルギ-強度測定方法において、TN液晶セル24を回転させる第1の工程と、検光子25をTN液晶セル24より2倍の速度で同一方向に回転させる第2の工程、位相差板27を挿入して、TN液晶セル24を少しずつ回転させる毎に、検光子25をスキャンさせることにより得られたψ00、ψp (1) ,ψ0 (1) 、ψp (2),ψ0 (2) に基づいて、理論式よりツイスト角Φt を求め、このツイスト角ΦtよりTN液晶セル24の方位角方向のアンカリングエネルギ-Aφを求めるようにしている。

Claim (excerpt)：

レ-ザ光源から放射されるレ-ザ光を偏光子を介して偏光させた後、液晶セルに入射させ、この液晶セルから出射したレ-ザ光を検光子を介して光透過率Tを光検出器で測定することにより上記液晶セルの方位角方向のアンカリングエネルギ-測定方法において、上記液晶セルを上記レ-ザ光の光軸を中心に回転させて上記光検出器で検出される光透過率Tが最小とする上記液晶セルの回転角度ψ00を求める第1の工程と、上記液晶セルと上記検光子を上記レ-ザ光の光軸を中心に同一方向に回転速度が1:2の比率で回転させて上記光検出器で検出される光透過率Tが最小とする上記検光子の回転角度ψp (1) を求める第2の工程と、上記偏光子と45度となる様に位相差板を上記液晶セルと上記検光子との間に挿入し、上記液晶セルを少しずつ回転させ、少しずつ回転させる毎に上記レ-ザ光の光軸を中心に上記検光子を1回転させて、上記光検出器で検出される光透過率Tが最小とする上記検光子の回転角度ψp (2) 及びその時の上記液晶セルの回転角度ψ0 (2) を求める第3の工程と、上記第1の工程で求めた上記液晶セルの回転角度ψ00、上記第2の工程で求めた上記検光子の回転角度ψp (1) 、上記第3の工程で求めた上記検光子の回転角度ψp (2) 及びその時の上記液晶セルの回転角度ψ0 (2) に基づいて上記液晶セルのツイスト角Φt を求める第4の工程と、この第4の工程で求められたツイスト角Φt に基づいて上記液晶セルの方位角方向のアンカリングエネルギ-を所定の計算式より求める第5の工程とを具備したことを特徴とするネマチック液晶素子の方位角方向のアンカリングエネルギ-測定方法。