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J-GLOBAL ID：200903048479434563
分光測定法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
青山 葆 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991168082
Publication number (International publication number)：1993018823
Application date： Jul. 09, 1991
Publication date： Jan. 26, 1993
Summary：
【要約】【目的】 分光計測における定量分析において、セル長補正を行うことにより、セル長の異なる複数のセルを利用することを目的とする。【構成】 所定の複数の波長で分光測光する装置を用いた分光分析において、あらかじめ各種出力変動を各波長ごとに測定し、測定波長数の次元の空間におけるベクトルと考えて、すべてのベクトルに直交する部分空間を求めておく。そして基準となるセルと測定に使用するセルについて、複数の測定対象試料の測定を行い上記の部分空間に射影して、あらかじめ各種の誤差変動を除去する。この射影されたデータを使用して、基準セルを用いた測定値と測定セルを用いた測定値との相関を求め、セル長による変化を補正する。この補正値と検量線式を用いて出力値を求める。これにより、セル長の異なる複数のセルの使用を可能にする。
Claim (excerpt)：
所定の複数の波長で分光測光する装置において、あらかじめ吸光度の各種出力変動を各波長ごとに測定し、この各種出力変動をそれぞれ測定波長数の次元の空間におけるベクトルとみなし、この全ベクトルに直交する部分空間を求め、基準となるセルと測定に使用するセルについて、複数の測定対象試料の吸光度を求め、上記の部分空間に射影し、この射影された吸光度データを使用して、基準セルを用いた測定値と測定セルを用いた測定値の相関を表す吸光度補正式を求め、測定セルを用いた測定値をこの吸光度補正式を用いて補正することを特徴とする分光測定法。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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