Pat

J-GLOBAL ID：200903048518790399

金属中介在物の組成及び粒度分布測定方法

Inventor： 杉原 孝志 ,  松村 孝
Applicant, Patent owner： 川崎製鉄株式会社
Agent (1)： 小杉 佳男 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995190676
Publication number (International publication number)：1997043150
Application date： Jul. 26, 1995
Publication date： Feb. 14, 1997
Summary：

【要約】【課題】本発明は、スパーク放電式発光分光分析方法を用いての金属中に分散、存在する介在物の組成及び粒度分布を迅速かつ正確に測定する方法を提供することを目的としている。【解決手段】金属試料中に存在する介在物を発光分光分析するに際し、通常のデータ処理で各元素の含有量を求めておくと共に、前記スパーク放電毎に得られる発光スペクトル線の強度値を、予め設定している放電時間で各元素の固溶体分と介在物分に分割して求め、該介在物分の強度値を予め標準試料で求めた強度値と粒径間の関係に基づき粒径に変換し、この操作を多数回の放電毎に繰返し、積算して金属中に存在する介在物の粒度分布を定める。

Claim (excerpt)：

不活性ガス雰囲気中で、金属試料と対電極との間で多数回のスパーク放電を行い、金属試料中に存在する介在物を発光分光分析するに際し、通常のデータ処理で各元素の含有量を求めておくと共に、前記スパーク放電毎に得られる発光スペクトル線の強度値を、予め設定している放電時間で各元素の固溶体分と介在物分に分割して求め、該介在物分の強度値を予め標準試料で求めた強度値と粒径間の関係に基づき粒径に変換し、この操作を多数回の放電毎に繰返し、積算して金属中に存在する介在物の粒度分布を定めることを特徴とする金属中介在物の組成及び粒度分布測定方法。

IPC (4)：

G01N 21/67 ,  G01N 15/02 ,  G01N 15/14 ,  G01N 33/20

FI (4)：

G01N 21/67 A ,  G01N 15/02 C ,  G01N 15/14 K ,  G01N 33/20 J