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J-GLOBAL ID：200903048580298433

LC/API質量分析方法

Inventor： 安田 昭善 ,  内田 稔
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 高橋 明夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992068058
Publication number (International publication number)：1993275053
Application date： Mar. 26, 1992
Publication date： Oct. 22, 1993
Summary：

【要約】【目的】 LC/API質量分析を行う場合に、正,負のイオン質量スペクトルを生成する物質が混在していても、その試料を一回の分析で感度良く分析することができ、また構造解析を容易にする質量分析法を提供する。【構成】 LC(液体クロマトグラフィ)から分離,流出する一成分ごとの流出時間to内で正イオン質量スペクトル及び負イオン質量スペクトルの測定モードを交互にくり返して質量分析の走査を行う。例えば、API(大気圧イオン化)の針電極電圧、ドリフト電圧、イオン加速電圧、質量分析計の電場電圧、磁場掃引電圧(走査電圧)をそれぞれ同期させて正電圧,負電圧を周期的にくり返し発生させる。また、上記の結果得られた正,負のスペクトルのマススペクトルグラムを同一画面で表示したり、これをクロマトグラフに変換して表示する。

Claim (excerpt)：

液体クロマトグラフィ(以下、LCと略す)から分離,流出する試料の成分を大気圧イオン化インタフェ-ス(以下、APIと略す)でイオン化した後、質量分析する方法において、LCから流出する一成分ごとに、その一成分の流出時間内で正イオン質量スペクトル及び負イオン質量スペクトルの測定モードを交互にくり返して質量分析の走査を実行することを特徴とするLC/API質量分析方法。

IPC (2)：

H01J 49/26 ,  G01N 27/62

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-206135
  
• 特開昭60-207049
  
• 特開平2-044640