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J-GLOBAL ID：200903048592292651
後方散乱光の測定方法およびその装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
志賀 正武
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992036751
Publication number (International publication number)：1993231923
Application date： Feb. 24, 1992
Publication date： Sep. 07, 1993
Summary：
【要約】【目的】 後方レーリー散乱光の測定において、フェージング雑音を充分に低減し、また、経済的で高速かつ高性能な後方ブリルアン散乱光の測定を可能とする。【構成】 スペクトル幅の狭い連続発振光源1からの出射光を光変調器2により変調周波数pで光変調し、この変調された光を被測定光ファイバ5に入射させる。そして、被測定光ファイバ5において後方に散乱されて入射方向に伝搬する後方レーリー散乱光を、変調された光の一部である局発光を用いて光受信器10においてコヒーレント受信して後方レーリー散乱光のパワーを測定する。そして、変調周波数pの異なる上述した測定を複数回行い、その複数回の測定の結果得られる複数の測定値の平均値から後方レーリー散乱光のパワーを求める。
Claim (excerpt)：
スペクトル幅の狭い連続発振光源を使用し、該連続発振光源からの出射光を変調周波数pで光変調し、該光変調により変調された光を被測定光ファイバに入射させ、該被測定光ファイバにおいて後方に散乱されて入射方向に伝搬する後方レーリー散乱光を、前記変調された光の一部を局発光としてコヒーレント受信することにより、前記後方レーリー散乱光のパワーを測定し、前記変調周波数pの異なる前記測定を複数回行い、該複数回の前記測定の結果得られる複数の測定値の平均値から、前記後方レーリー散乱光のパワーを求めることを特徴とする後方散乱光の測定方法。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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