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J-GLOBAL ID：200903048713653169

画像解析装置

Inventor： 鈴木 啓介
Applicant, Patent owner： 住友金属工業株式会社
Agent (1)： 河野 登夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992304898
Publication number (International publication number)：1994129835
Application date： Oct. 15, 1992
Publication date： May. 13, 1994
Summary：

【要約】【目的】 介在物等の計測対象と背景パターンとが混在する顕微鏡等から得られた原画像から背景パターンを削除した計測対象のみの画像を生成して介在物等の自動計測を可能にする。【構成】 TVカメラ30を介して顕微鏡20から得られた原画像の実信号を複素数化器103 により複素信号化して2次元フーリエ変換器105 で2次元フーリエ変換した空間周波数成分スペクトルを示す周波数画像を生成し、背景パターンの周期的な規則性により空間周波数成分の分布度が高くて輝度が高い画素を格子点抽出器106 により格子点として抽出し、2次元逆フーリエ変換器107 により2次元逆フーリエ変換して背景パターンのみの画像を生成し、引算器110 により原画像から背景パターンのみの画像を引算して介在物のみの画像を生成し計測装置40に供給する。

Claim (excerpt)：

計測対象と非計測対象とが混在する原画像を解析して計測対象のみの画像を生成する画像解析装置において、原画像の実信号を複素信号に変換する手段と、複素信号に変換した原画像を2次元フーリエ変換して原画像の空間周波数成分スペクトルからなる周波数画像を生成する手段と、該周波数画像からその輝度に基づいて非計測対象の空間周波数成分が分布する格子点を抽出する手段と、該格子点以外の画素の輝度をゼロとした周波数画像を2次元逆フーリエ変換して非計測対象のみの画像を生成する手段と、原画像と非計測対象のみの画像との差を求めて計測対象のみの画像を生成する手段とを備えたことを特徴とする画像解析装置。

IPC (5)：

G01B 11/24 ,  G01B 9/04 ,  G06F 15/62 380 ,  G06F 15/70 330 ,  G06F 15/70 455