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J-GLOBAL ID:200903048736580185
トンネル接合素子のトンネル障壁層を処理する方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
岡田 次生
, 伏見 直哉
, 平野 ゆかり
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003347960
Publication number (International publication number):2004153258
Application date: Oct. 07, 2003
Publication date: May. 27, 2004
Summary:
【課題】 トンネル障壁層の酸化および窒化がトンネル障壁層全体を通して均一かつ均質になるように、トンネル接合素子内の上層を通して非導電性トンネル障壁層を処理する方法を提供すること。【解決手段】 トンネル接合素子の非導電性トンネル障壁層を、トンネル障壁層を覆う少なくとも1つの上層を通して、トンネル障壁層に照射される紫外光に暴露することにより、均一なトンネル障壁層への上記の要求に対処する。以前の処理ステップからトンネル障壁層に残される(disposed)、酸素あるいは窒素などの別の反応物質が紫外線放射によって活性化され、トンネル障壁層内の欠陥を修復する。その紫外光には、処理装置の既存の部品に組み込まれる紫外光源からの紫外光を用いることができる。トンネル障壁層は、上層の形成中に紫外光で照射されることができるか、あるいは上層の形成後に照射されることができる。 【選択図】図5A
Claim (excerpt):
トンネル接合素子のトンネル障壁層を処理する方法であって、
予め形成されたトンネル障壁層上に所定の厚みの上層を形成することと、
前記トンネル障壁層に該上層を通して紫外光を照射することを含み、該紫外光は、前記所定の厚みの上層を透過して前記トンネル障壁層内にある反応物質に入射し、
前記紫外光が前記反応物質を活性化することにより、該反応物質が、前記トンネル障壁層の材料に反応し該材料を非導電性材料に変換する方法。
IPC (4):
H01L43/12
, H01L27/105
, H01L29/66
, H01L43/08
FI (5):
H01L43/12
, H01L29/66 L
, H01L29/66 T
, H01L43/08 Z
, H01L27/10 447
F-Term (3):
5F083FZ10
, 5F083GA27
, 5F083JA60
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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磁気抵抗効果素子及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-116972
Applicant:日本電気株式会社
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酸化絶縁膜のアニ-ル方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-255956
Applicant:日本電池株式会社
-
絶縁膜改質方法及び半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-269019
Applicant:日本電池株式会社
-
金属酸化膜の形成方法及び成膜処理システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-204502
Applicant:東京エレクトロン株式会社
-
5酸化タンタル膜の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-239335
Applicant:富士通株式会社
-
半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-234296
Applicant:ソニー株式会社
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