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J-GLOBAL ID：200903048757098286

歪み評価装置

Inventor： 山浦 剛俊 ,  井上 好章 ,  紀 博徳 ,  杉村 忠士
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000085279
Publication number (International publication number)：2001272213
Application date： Mar. 24, 2000
Publication date： Oct. 05, 2001
Summary：

【要約】【課題】本発明は、局所的な静的歪み及び広域な動的歪みの両方を計測可能な信頼性の高い歪み計測装置を得ることを課題とする。【解決手段】光ファイバ2を対象物に貼り付けて使用され、対象物の歪みを評価する歪み評価装置において、FBG計測器1と、このFBG計測器1と計測対象の光ファイバ2を介して接続されたBOTDR3と、前記FBG計測器1、前記BOTDR3と光ファイバ2との各接続部分に夫々設けられた、FBG計測器1,BOTDR3の使用する波長帯域のフィルター8,9とを具備することを特徴とする歪み評価装置。

Claim (excerpt)：

光ファイバを対象物に貼り付けて使用され、対象物の歪みを評価する歪み評価装置において、FBG計測器と、このFBG計測器と計測対象の光ファイバを介して接続された光ファイバ歪み/損失計測器と、前記FBG計測器、前記歪み/損失計測器と光ファイバとの各接続部分に夫々設けられた、各計測器の使用する波長帯域のフィルターとを具備することを特徴とする歪み評価装置。

IPC (7)：

G01B 11/16 ,  G01D 21/00 ,  G01K 11/12 ,  G01L 1/24 ,  G01M 11/00 ,  G01P 15/03 ,  G01J 5/08

FI (7)：

G01B 11/16 Z ,  G01D 21/00 D ,  G01K 11/12 F ,  G01L 1/24 A ,  G01M 11/00 U ,  G01P 15/03 C ,  G01J 5/08 A

F-Term (23)：

2F056VF02 ,  2F056VF11 ,  2F056VF16 ,  2F065AA65 ,  2F065BB05 ,  2F065DD00 ,  2F065FF00 ,  2F065FF48 ,  2F065FF58 ,  2F065LL02 ,  2F065LL22 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ42 ,  2F065UU02 ,  2F076BB09 ,  2F076BB11 ,  2F076BD06 ,  2G066AC20 ,  2G066BA18 ,  2G066BA23 ,  2G066CA01 ,  2G086DD04