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J-GLOBAL ID:200903048761056415
リングの端面検査方法および端面検査装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小塩 豊
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998095777
Publication number (International publication number):1999295054
Application date: Apr. 08, 1998
Publication date: Oct. 29, 1999
Summary:
【要約】【課題】 リングの端面の傷の有無を検査するに際し、マイクロスコープを用いた目視による検査では、検査時間がかかると共に検査結果にばらつきが生じる恐れがあり、画像処理や粗さ測定による検査では、検査時間がかかると共に設備費が高くなるという問題があった。【解決手段】 光の送受信によりリングの端面の凹凸を検出する表面状態検出手段6を用い、リングRを周方向に回転させると共に、表面状態検出手段6からの光をリングRの端面の幅方向に対して斜め方向に走査する端面検査方法とし、短時間で高精度の端面検査を実現すると共に、設備費の低減を可能にした。
Claim (excerpt):
リングの端面における傷の有無を検査するに際し、光の送受信によりリングの端面の凹凸を検出する表面状態検出手段を用い、リングを周方向に回転させると共に、表面状態検出手段からの光をリングの端面の幅方向に対して斜め方向に走査することを特徴とするリングの端面検査方法。
IPC (3):
G01B 11/30
, F16G 1/00
, G01N 21/88
FI (3):
G01B 11/30 F
, F16G 1/00 C
, G01N 21/88 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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特開2052-028547
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円盤状記録媒体の疵検出方法および疵検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-234725
Applicant:出光マテリアル株式会社
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特開昭59-197840
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