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J-GLOBAL ID：200903048785010580

超音波診断装置

Inventor： 福喜多 博 ,  萩原 尚 ,  西垣 森雄
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992179607
Publication number (International publication number)：1994022958
Application date： Jul. 07, 1992
Publication date： Feb. 01, 1994
Summary：

【要約】【目的】 高感度、高精度の位相検波を実現することができるようにした超音波診断装置を提供する。【構成】 配列振動子T-1〜T-4からの受信信号をディジタルビーム合成部4でディジタル変換し、受信指向性の合成を行う。ディジタルビーム合成部4の出力と直交信号発生部5から出力されたディジタル直交信号をディジタルミキサ6で乗算し、位相検波する。単一振動子からの受信信号、若しくは配列振動子T-3、T-4からアナログビーム合成部12を経由した受信信号を、直交信号発生部5の出力信号から得られた直交信号をアナログミキサ14で乗算し、位相検波する。直交信号発生部5の出力をディジタルミキサ6とアナログミキサ14に共通に使用するように制御する。

Claim (excerpt)：

配列振動子から得られる受信信号をディジタル変換し、受信指向性の合成を行うディジタルビーム合成部と、直交データを出力する直交信号発生部と、上記ディジタルビーム合成部の出力と上記直交信号発生部から出力された直交データを乗算するディジタルミキサと、単一振動子から得られるアナログ受信信号と上記直交信号発生部の出力データから得られた直交信号を乗算するアナログミキサとを備えた超音波診断装置。

IPC (2)：

A61B 8/00 ,  G01N 29/22 501