Pat
J-GLOBAL ID:200903048948932952
印刷物検査装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
堀田 実 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997306689
Publication number (International publication number):1999142350
Application date: Nov. 10, 1997
Publication date: May. 28, 1999
Summary:
【要約】【課題】 基準画像に存在する形状で検査画像に存在しない欠陥も検出でき、さらに印刷材に蛇行やばたつきが生じても欠陥を検出することのできる印刷物検査装置を提供する。【解決手段】 繰り返し連続印刷された同一絵柄を検査する印刷物検査装置において、基準画像を格納する格納手段8,9と、基準画像に最小値フィルタをかけ所定の濃度バイアス値を差し引いた第1演算値を算出する第1演算手段11,18,19と、検査対象となる検査画像を取り込み第1演算値より検査画像を差し引いた濃淡画像をしきい値により2値化して第1欠陥画像として検出する第1検出手段24,28とを備える。
Claim (excerpt):
繰り返し連続印刷された同一絵柄を検査する印刷物検査装置において、基準画像を格納する格納手段と、前記基準画像に最小値フィルタをかけ所定の濃度バイアス値を差し引いた第1演算値を算出する第1演算手段と、検査対象となる検査画像を取り込み前記第1演算値より検査画像を差し引いた濃淡画像をしきい値により2値化して第1欠陥画像として検出する第1検出手段とを備えたことを特徴とする印刷物検査装置。
IPC (3):
G01N 21/89
, B41F 33/14
, G06T 7/00
FI (3):
G01N 21/89 Z
, B41F 33/14 G
, G06F 15/62 410 A
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
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印刷物の検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-333897
Applicant:凸版印刷株式会社, 株式会社イーゼル
-
印刷パターン検査方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-207587
Applicant:株式会社ヒューテック
-
特開昭60-190360
Cited by examiner (3)
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印刷物の検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-333897
Applicant:凸版印刷株式会社, 株式会社イーゼル
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印刷パターン検査方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-207587
Applicant:株式会社ヒューテック
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特開昭60-190360
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