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J-GLOBAL ID：200903048957997560
ソフトウェアシステムのテスト優先度導出支援方法、テストケース設計支援方法、およびその支援プログラム
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
外川 英明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001290380
Publication number (International publication number)：2003099283
Application date： Sep. 25, 2001
Publication date： Apr. 04, 2003
Summary：
【要約】【課題】 本発明では、状況に応じて重要な機能を優先的かつ重点的にテストできるような、ソフトウェアシステムのテストケース設計支援方法の提供。【解決手段】 ソフトウェアシステムの仕様書から抽出される仕様項目ごとに、該システムの評価観点に基づく特性値を設定する仕様項目特性値設定工程と、前記評価観点のうちいずれに重点を置くかを定義するテスト戦略を作成するテスト戦略作成工程と、作成された前記テスト戦略のうち前記ソフトウェアシステムのテストに適用するテスト戦略を選択するテスト戦略選択工程と、設定された前記特性値と選択された前記テスト戦略から優先的に前記テストを実行する前記仕様項目を決定するためのテスト優先度を導出するテスト優先度導出工程と、前記テスト優先度をもとにテストケースを設計するテストケース設計工程とを備えたことを特徴とするテストケース設計支援方法。
Claim (excerpt)：
ソフトウェアシステムの仕様書から抽出される仕様項目ごとに、該システムの評価観点に基づく特性値を設定する仕様項目特性値設定工程と、前記評価観点のうちいずれに重点を置くかを定義するテスト戦略を作成するテスト戦略作成工程と、作成された前記テスト戦略のうち前記ソフトウェアシステムのテストに適用するテスト戦略を選択するテスト戦略選択工程と、設定された前記特性値と選択された前記テスト戦略から優先的に前記テストを実行する前記仕様項目を決定するためのテスト優先度を導出するテスト優先度導出工程とを備えたことを特徴とするテスト優先度導出支援方法。
F-Term (2)：
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